Silc — (englisch: Secure Internet Live Conferencing, dt. etwa „Sichere Konferenz via Internet, in Echtzeit“) ist ein Netzwerkprotokoll für sicheres Synchronous Conferencing und wird vor allem für MUC (Multi User Chat, dt. Mehrbenutzer Chat) verwendet.… … Deutsch Wikipedia
SILC — (englisch: Secure Internet Live Conferencing, dt. etwa „Sichere Konferenz via Internet, in Echtzeit“) ist ein Netzwerkprotokoll für sicheres Synchronous Conferencing und wird vor allem für MUC (Multi User Chat, dt. Mehrbenutzer Chat) verwendet.… … Deutsch Wikipedia
SILC (protocol) — SILC (Secure Internet Live Conferencing protocol) is a protocol that provides secure synchronous conferencing services over the Internet. Components The SILC protocol can be divided in three main parts: SILC Key Exchange (SKE) protocol, SILC… … Wikipedia
SILC — can refer to either of the following:* SILC (protocol), Secure Internet Live Conferencing, which provides secure conferencing services over the Internet * SILC (semiconductors) * SILC (Sydney Institute of Language and Commerce), a college in… … Wikipedia
SILC Client — Développeur Pekka Riikonen Dernière version … Wikipédia en Français
SILC Server — Développeur Pekka Riikonen Dernière version … Wikipédia en Français
SILC (протокол) — SILC (Secure Internet Life Conference) безопасный протокол с возможностями организации конференций. При разработке протокола одним из основных принципов была безопасность. Многие возможности реализованные в SILC присутствуют как в IM подобных… … Википедия
silc — silc(k obs. ff. silk … Useful english dictionary
SILC — Cette page d’homonymie répertorie les différents sujets et articles partageant un même nom. Sigles d’une seule lettre Sigles de deux lettres Sigles de trois lettres > Sigles de quatre lettres … Wikipédia en Français
SILC — В этой статье не хватает ссылок на источники информации. Информация должна быть проверяема, иначе она может быть поставлена под сомнение и удалена. Вы можете отре … Википедия
SILC (semiconductors) — Stress Induced Leakage Current is an increase in the gate leakage current of a MOSFET, due to defects created in the gate oxide during electrical stressing … Wikipedia
