International Technology Roadmap for Semiconductors

International Technology Roadmap for Semiconductors

Die International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS) ist eine Prognose über die zukünftige Entwicklung der Halbleitertechnik, die als roter Faden für Chip- und Gerätehersteller gilt. Sie wird alle zwei Jahre von einem Gremium der weltweiten Experten aus der Halbleiterindustrie aktualisiert. Zusätzlich erfolgt in den Zwischenjahren eine kleine Aktualisierung.

Die Entwicklung der Leistungsfähigkeit der mikroelektronischen Schaltungen orientiert sich dabei am mooreschen Gesetz.

Inhaltsverzeichnis

Geschichte

Mit der fortschreitenden Externalisierung von Produktionsanlagen durch Anbieter von Spezialausrüstungen, entstand die Notwendigkeit einer klaren Entwicklungsplanung, um zukünftige technologischen Bedürfnissen der IC-Herstellung planen und steuern zu können. Seit den 1980er Jahren übernahm in den USA die Semiconductor Industry Association (SIA) die Verantwortung für diese Koordinierung, was zu der Schaffung einer im amerikanischen Stil geführt Roadmap führte, die National Technology Roadmap for Semiconductors (NTRS). Im Jahr 1998 schloss sich die SIA mit ihren europäischen, japanischen, koreanischen und taiwanesischen Kollegen zusammen, um die erste internationale Entwicklungsplanung zu erstellen, die International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS). [1]

Umfang und Themen

Die ITRS umfasst eine Gruppe von Dokumenten, in denen die Anforderungen zukünftiger mikroelektronischer Schaltungen sowie der benötigten Mess- und Anlagentechnik zusammengefasst werden. Sie gelten als Richtlinie für die Entwicklung im Bereich der Halbleitertechnik. Zusätzlich gibt es noch mehrere Tabellendokumente mit Prognosen für die nächsten 15 Jahre. Die Hauptdokumente umfassen folgende Themen:

  • Executive Summary
  • System Drivers
  • Design
  • Test & Test Equipment
  • Process Integration, Devices & Structures
  • RF and A/MS Technologies for Wireless Communications
  • Emerging Research Devices
  • Emerging Research Materials
  • Front End Processes
  • Lithography
  • Interconnect
  • Factory Integration
  • Assembly & Packaging
  • Environment, Safety & Health
  • Yield Enhancement
  • Metrology
  • Modeling & Simulation

Weblinks

Einzelnachweise

  1. Jean-Baptiste Waldner: Nanocomputers and Swarm Intelligence, S. 50–53, ISTE 2007, ISBN 1847040020

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