BSDL

Die Boundary Scan Description Language (kurz: BSDL) ist eine Sprache zur Beschreibung von Boundary-Scan-Test-Fähigkeiten JTAG-kompatibler elektronischer Bauteile. Der Boundary-Scan-Test ist ein Testverfahren für elektronische Bauteile, mit dem defekte Bauteilpins oder defekte Verbindungen auf einer Leiterplatte festgestellt werden können. Ursprünglich definiert in 1149.1b-1994 „Supplement to IEEE Std 1149.1-1990, IEEE standard test access port and boundary-scan architecture” ist BSDL jetzt Teil des 1149.1-2001 „IEEE standard test access port and boundary-scan architecture”.

BSDL basiert auf einer vereinfachten VHDL-Sprachsyntax um zu beschreiben, über welche Boundary-Scan-Test-Fähigkeiten ein elektronisches Bauteil verfügt. Diese Beschreibung wird von den Herstellern als .bsdl-Datei zur Verfügung gestellt. Diese Dateien werden von Boundary Scan Tools dazu benutzt, um Testprogramme für Boundary-Scan-Tests auf Baustein- oder auf Leiterplattenebene zu generieren oder sie werden bei der Hardware-Fehlerdiagnose eingesetzt.

Eine BSDL-Datei enthält eine Auflistung aller im Baustein vorhandenen Boundary Scan-Zellen und beschreibt, wie diese mit den Bausteinpins verbunden sind, welche Funktion sie haben und wie sie in einem Boundary Scan Test eingesetzt werden können. Die BSDL-Datei enthält außerdem die von dem Baustein unterstützten JTAG-Befehle und ihre OpCodes. Oft sind auch noch Angaben über bei der Nutzung des JTAG-Ports zu beachtende Besonderheiten enthalten. Dies können zum Beispiel besondere Reset-Bedingungen sein.

Weblinks

• A Language for Describing Boundary-Scan Devices - Das Paper, in dem BSDL vorgeschlagen wurde (englisch)