Düsterhöft ist der Familienname folgender Personen:
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Düsterhöft — nicht sicher zu deutender Name: 1. Übername zu mnd. duster »düster, finster« + mnd. hovet, hoft »Kopf, Haupt«. 2. Entstellter Wohnstättenname zu mnd. duster »düster, finster« + mnd. hop »Haufen« … Wörterbuch der deutschen familiennamen
Liane Düsterhöft — (* 1936 in Berlin) ist eine deutsche Schauspielerin. Inhaltsverzeichnis 1 Leben 2 Filmografie (Auswahl) 2.1 Kino 2.2 Film und Fernsehen … Deutsch Wikipedia
Das Haus Anubis — Genre Soap opera Mystery Country of origin Germany Language(s) German No. of seasons 3 No. of episodes … Wikipedia
Bergfeld — Wappen Deutschlandkarte … Deutsch Wikipedia
SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionen-Massenspektrometrie — (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) und niederenergetische Ionenstreuspektroskopie (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionenmassenspektrometer — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionenmassenspektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
