- Siegfried Werth-Stiftung
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Die Siegfried Werth Stiftung fördert wissenschaftliche Nachwuchskräfte bei der Grundlagenforschung[1] auf dem Gebiet der optoelektronischen Koordinatenmesstechnik. Die Stiftung ist benannt nach Siegfried Werth (1907–1982), einem Wegbereiter der optischen Koordinaten-Messtechnik und Gründer des Gießener Unternehmens Werth Messtechnik GmbH. Sie wurde im Jahr 1987 von seiner Witwe C. H. Maria Werth gegründet.
Siegfried Werth-Preis
Die Preisverleihung erfolgt zumeist im feierlichen Rahmen des jährlich stattfindenden Tages der offenen Tür der Werth Messtechnik GmbH in Gießen. Im Rahmen dieser Veranstaltung wird dem Preisträger die Möglichkeit gegeben, seine Arbeit einem breiten Fachpublikum vorzustellen.
Preisträger
- 2011 Dr. Marco Hornung, Friedrich-Schiller-Universität Jena
- 2010 Daniel Weigel, Friedrich-Schiller-Universität Jena
- 2008 Andreas Gläser, Westsächsische Hochschule Zwickau
- 2006 Jens Pannekamp, Fraunhofer IPA, Stuttgart, für seine Doktorarbeit zum Thema: "Adaptive Verfahren zur Bewertung texturierter Oberflächen".
- 2005 Marcus Petz, Technische Universität Braunschweig
- 2003 Bodo Rosenhahn, Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
- 2001 Sonderpreise zum 50-jährigen Firmenjubiläum der Werth Messtechnik GmbH an:
- Simon Winkelbach, Technische Universität Braunschweig,
- Marcus Jacob, Fachhochschule Jena
- Oliver Gächter / Roger Caviezel, Hochschule für Technik Buchs, Schweiz
- 2000 Horst Konstantin Mischo, Fraunhofer Institut Aachen
- Sonderpreis an: Thomas Luhmann, Fachhochschule Odenburg
- 1998 Ralph Peter Knorpp, Fraunhofer Institut Stuttgart
- 1996 Edgar Reiner Fischer, Universität Stuttgart
- 1994 Christian Troll / Dipl. Ing. Uwe Kipping, TU Chemnitz-Zwickau
- 1991 Thomas Sefker, Universität GHS Essen
- 1990 Reimar Lenz, TU München
- 1988 Wolfgang Rauh, Fraunhofer IPA, Stuttgart
Einzelnachweise
- ↑ Werth Messtechnik: Hauszeitschrift 'Der Multisensor' vom September 2008, Seite 1. Abgerufen am 6. Juli 2011.
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