- Very-Low-Frequency-Verfahren
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Das Very-Low-Frequency-Verfahren (VLF-Verfahren) ist ein passives elektromagnetisches Verfahren in der Geophysik. Unter Ausnutzung der elektromagnetischen Induktion lassen sich Rückschlüsse auf die Leitfähigkeit des Untergrundes ziehen.
Inhaltsverzeichnis
Verfahren
Das VLF-Verfahren nutzt leistungsstarke Sender verschiedener Länder aus, die weltweit empfangbar sind und beispielsweise zur Kommunikation mit Unterseebooten dienen. Solche Längstwellensender werden in einem Frequenzbereich von 15 bis 25 kHz betrieben. Die gesendete Horizontalkomponente des primären Magnetfeldes induziert in großer Entfernung zum Sender Wirbelströme im Untergrund (vergleiche Skineffekt). Das hierdurch erzeugte sekundäre Magnetfeld (Vertikalkomponente) hat entsprechend der elektrischen Leitfähigkeit des Untergrundes eine zum primären Magnetfeld (Normalfeld) veränderte Amplitude und eine Phasenverschiebung. VLF-Messungen werden genutzt, um insbesondere Leitfähigkeitsveränderungen, hervorgerufen durch langgestreckte vertikale Strukturen, im Bereich der Geologie und der Hydrologie zu erfassen.
Funktionsprinzip
Das elektromagnetische Feld eines VLF-Senders (vertikale Antenne bzw. Dipol) breitet sich in der Horizontalebene als konzentrische Kreise aus.
In großer Entfernung zum Sender (Entfernung entsprechend einiger skin-Tiefen der verwendeten Senderfrequenz) hat das Primärfeld die Eigenschaften einer ebenen Welle. Über einem schlecht leitenden Untergrund besteht somit ein primäres horizontales magnetisches Feld (Normalfeld, senkrecht zur Ausbreitungsrichtung) und ein vertikales elektrisches Feld.
Bei Vorhandensein eines elektrisch leitenden Störkörpers werden in ihm Wirbelströme induziert, deren sekundäres Magnetfeld sich mit dem Normalfeld des Senders überlagert. Das VLF-Verfahren misst das Amplitudenverhältnis zwischen der vertikalen Komponente des sekundären Magnetfeldes und der horizontalen Komponente des primären Magnetfeldes (Hz/Hy). Zusätzlich zur Amplitudendifferenz entsteht auch eine Phasenverschiebung zwischen dem primären und sekundären Magnetfeld. Die Inphase Komponente (Realteil) ist definiert durch die Amplitude des sekundären Magnetfeldes an der das primäre Magnetfeld sein Maximum aufweist. Die Quadratur Komponente (Imaginärteil) ist die Amplitude des Sekundärfeldes bei einer Phasenverschiebung von 90° gegenüber dem Amplitudenmaximum des Primärfeldes.
Die Darstellungen der Messergebnisse des VLF-Verfahrens zeigen typischerweise prozentuale Verhältnisse der Inphase und Quadratur entlang eines Profils und die Angabe der verwendeten Frequenz, Senderrichtung, Streichrichtung der Struktur und angewendete Filter auf die Daten. Der Kontakt zwischen dem gut leitenden Störkörper und dem umgebenden schlecht leitenden Material wird durch den Wendepunkt der Inphasewerte aufgezeigt. Da bei dem VLF-Verfahren das primäre Feld von einer bestimmten Sendeposition stammt, muss insbesondere die Messgeometrie beim VLF-Verfahren beachtet werden. Der Sender und der langgestreckte Störkörper müssen dem Fall der TE-Polarisation (Transversal-Elektrisch) genügen. D. h. der Sender muss in Linie mit der Längsausstreckung der Struktur liegen. Jede Abweichung von dieser Messgeometrie erzeugt ein sogenanntes mode-mixing und verfälscht die Messergebnisse. Daher müssen zur Planung einer VLF-Messung Senderrichtungen entsprechend zur erwarteten Strukturgeometrie gewählt werden. Die Erkundungstiefe des Verfahrens wird durch die Eindringtiefe der elektromagnetischen Welle bestimmt und kann durch die sogenannte skin-Tiefe abgeschätzt werden.
Datenauswertung und Modellierung
VLF-Messungen werden hauptsächlich zur schnellen Kartierung von lateralen Leitfähigkeitsveränderungen eingesetzt, wie z. B. zur Bestimmung der Ausdehnung eines Erzganges. Aus den Wendepunkten der Messdaten kann meist direkt ohne Modellierung qualitativ die Lage des maximalen Leitfähigkeitskontrastes und somit die Lage des Kontaktes zwischen z. B. dem Erzgang und dem Muttergestein bestimmt werden. Oftmals wird ein Fraser-Filter auf die Daten angewendet, um die Lage des maximalen Leitfähigkeitskontrastes anhand von Maxima und Minima der Inphase anstelle der Wendepunkte anzeigen zu lassen. Die Schätzung der Tiefenlage und der Widerstände der Struktur geschieht im Allgemeinen durch eine zweidimensionale Vorwärtsmodellierung oder Inversion der Daten.
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